臺式掃描電子顯微鏡是介于光學顯微鏡和透射電鏡之間的一種微觀形貌設備，它不同于一般的電子顯微鏡，可以用英文字母SEM來表示。可用臺式掃描電子顯微鏡對樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。作為一種觀察測量儀器，免不了會受其他因素影響測量結果，下面我們針對這方面來介紹一下。
影響臺式掃描電子顯微鏡觀測結果的幾大要數：
一、首先是分辨率，影響人力掃描電鏡的分辨率的主要因素又有以下三點：
1、入射電子束束斑直徑:為掃描電鏡分辨本領的極限。一般，熱陰極電子槍的小束斑直徑可縮小到6nm，場發射電子槍可使束斑直徑小于3nm。
2、入射電子束在樣品中的擴展效應:擴散程度取決于入射束電子能量和樣品原子序數的高低。入射束能量越高，樣品原子序數越小，則電子束作用體積越大，產生信號的區域隨電子束的擴散而增大，從而降低了分辨率.
3、成像方式及所用的調制信號:當以二次電子為調制信號時，由于其能量低(小于50 eV)，平均自由程短(10~100 nm左右)，只有在表層50~100 nm的深度范圍內的二次電子才能逸出樣品表面， 發生散射次數很有限，基本未向側向擴展，因此，二次電子像分辨率約等于束斑直徑。當以背散射電子為調制信號時，由于背散射電子能量比較高，穿透能力強，可從樣品中較深的區域逸出(約為有效作用深度的30%左右)。在此深度范圍，入射電子已有了相當寬的側向擴展，所以背散射電子像分辨率要比二次電子像低，一般在500~2000nm左右。如果以吸收電子、X射線、陰極熒光、束感生電導或電位等作為調制信號的其他操作方式，由于信號來自整個電子束散射區域，所得掃描像的分辨率都比較低，一般在l 000 nm或l0000nm以上不等。
二、放大倍數
臺式掃描電子顯微鏡的放大倍數可表示為M =Ac/As式中，Ac-熒光屏上圖像的邊長;As-電子束在樣品上的掃描振幅。一般地，Ac 是固定的(通常為100 mm)，則可通過改變As 來改變放大倍數。目前，大多數商品掃描電鏡放大倍數為20~20,000倍，介于光學顯微鏡和透射電鏡之間，即掃描電鏡彌補了光學顯微鏡和透射電鏡放大倍數的空擋。
三、襯 度
包括:表面形貌襯度和原子序數襯度。表面形貌襯度由試樣表面的不平整性引起。原子序數襯度指掃描電子束入射試祥時產生的背散射電子、吸收電子、X射線，對微區內原子序數的差異相當敏感。原子序數越大，圖像越亮。二次電子受原子序數的影響較小。高分子中各組分之間的平均原子序數差別不大;所以只有-些特殊的高分子多相體系才能利用這種襯度成像。
四、景 深
景深是指焦點前后的一個距離范圍，該范圍內所有物點所成的圖像符合分辨率要求，可以成清晰的圖像;也即，景深是可以被看清的距離范圍。臺式掃描電子顯微鏡的景深比透射電子顯微鏡大10倍，比光學顯微鏡大幾百倍。由于圖像景深大，所得掃描電子像富有立體感。電子束的景深取決于臨界分辨本領d0和電子束入射半角αc。其中，臨界分辨本領與放大倍數有關，因人眼的分辨本領約為0.2 mm, 放大后，要使人感覺物像清晰，必須使電子束的分辨率高于臨界分辨率d0 :電子束的入射角可通過改變光闌尺寸和工作距離來調整，用小尺寸的光闌和大的工作距離可獲得小的入射電子角。
